Skylark Lasers 製品一覧
- Skylark Lasers780nm & 785nm 単一周波数 CW DPSSレーザー 780 NX / 785 NX
近赤外(780nm または 785nm)CW DPSSレーザーで、狭線幅(< 300 kHz)、非常に低い強度ノイズ(< 0.3% RMS)、回折限界TEM00ビーム、M2 < 1.2、高いスペクトル純度、フィルタ不要のクリーンビームを実現。 780nm モデルは量子技術開発におけるルビジウム遷移(Rb 85, Rb 87)の精密な測定と制御に、785nm モデルは高解像度・高コントラストのラマン分光に最適です。
- Skylark Lasers320nm & 349nm 単一周波数 CW DPSSレーザー 320 NX / 349 NX
紫外(320 nm または 349 nm)CW DPSSレーザーで、狭線幅(< 500 kHz)、非常に低い強度ノイズ(< 0.3% RMS)、回折限界TEM00ビーム、M2 < 1.2、高いスペクトル純度、フィルタ不要のクリーンビームを実現。 ラマン分光、顕微鏡検査、レーザー干渉リソグラフィ、半導体検査、フォトルミネセンスなど、高精度、高安定性、良好なスペクトル純度が求められる高度な研究アプリケーションにも最適です。
Skylark Lasers 技術情報一覧
- Skylark Lasersレーザー干渉リソグラフィーによる高度なナノ構造作製
Skylark Lasers ケーススタディ:Skylark 349 NX UV DPSSレーザーを用いた干渉リソグラフィーによる高度なナノ構造作製。 ドイツのマルティン・ルター大学ハレ=ヴィッテンベルク校 材料科学学際センター(CMAT)Bodo Fuhrmann博士との共同研究による、2024年12月4日公開のケーススタディです。
- Skylark Lasersブリルアン顕微鏡 – 低ASEノイズ 780nm/785nmレーザー
Skylark Lasers社の780 nm/785 nm CWレーザーは、ブリルアン顕微鏡法・分光法に最適です。この波長域で比類のない非常に低いASEノイズとフィルター不要のクリーンビームを実現し、さらに狭線幅スペクトルで、弱く複雑なブリルアン散乱を効率的に検出できます。
- Skylark Lasersレーザー干渉リソグラフィのための低ノイズ CW UVレーザー
干渉リソグラフィや光格子形成には、Skylark Lasersの高安定性 320nm/349nm CW紫外レーザーが最適です。8インチ以上の表面に、回折格子・導波路などの精細な構造を形成できます。