780nm & 785nm 単一周波数 CW DPSSレーザー　Skylark 780 / 785 NX

近赤外 780nm / 785nm の単一周波数CW DPSSレーザー。スペクトル幅 ≤ 300 kHz、出力ノイズ ≤ 0.3% RMS、ASEノイズ < –80 dB の回折限界TEM₀₀ビームを、増幅器やフィルタなしで出力します。780nmモデル Skylark 780 は内蔵ルビジウム（Rb）リファレンスへの自動ロックに対応（オプション）し、Rb D2線を用いる量子技術やブリルアン顕微鏡に最適です。785nmモデル 785 NX はラマン分光に適しています。

Rb D2線に対応する 780nm 単一周波数CWレーザー　Skylark 780

Skylark 780 は、波長 780 nm、最大 400 mW の単一周波数CW DPSSレーザーです。スペクトル幅 ≤ 300 kHz、出力ノイズ ≤ 0.3% RMS、ASEノイズ < –80 dB の回折限界TEM₀₀ビームを、外部の増幅器・ASEフィルタ・空間フィルタなしで出力します。

レーザーヘッドに必要な機能を集約した「ラボ・イン・ア・ボックス」設計で、ヘッド以外に必要なのは付属のクローズドループ水冷チラーのみです。Web GUI によるリモート制御、Ethernet接続に対応し、装置への組込みにも適しています。

主な特徴

低ASEノイズ：< –80 dB
狭線幅：スペクトル幅 ≤ 300 kHz
低出力ノイズ：≤ 0.3% RMS（10 Hz～10 MHz）
高い安定性：波長 ±0.2 pm、出力 ≤ 2.0%（いずれも8時間）
回折限界TEM₀₀ビーム、コヒーレンス長 > 100 m
内蔵ルビジウム（Rb）リファレンスへのハンズフリー自動ロック（オプション）
モードホップフリー動作：ピエゾ微調整 1 GHz、エタロン調整による粗調整 40 GHz
Web GUI、Ethernet（TCP/IP）＋デジタルI/O、インターロック・メカニカルシャッター搭載

内蔵Rbガスセルによる自動ロック（オプション）

オプションのRbガスセルをレーザーに内蔵できます。ドップラー広がりした吸収信号を自動で探索し、D2線を自動でマッピングします。レーザー動作中は、GUIからの指令でこれらの吸収線間を切り替えることができます。外部にRbセルやチューニング用の機器を組む必要はありません。

※画像：Rb冷却光・リポンプ光の吸収線へのロック（80時間）

モードホップフリーの長期安定性

温度制御されたリファレンスエタロンをソフトウェアで監視し、モードがエタロンのFSRを超えてドリフトしないよう制御するため、モードホップフリー動作を維持します。長期ドリフトはわずかで、長時間の測定に適しています。

※画像：モードホップフリー安定性（100時間以上、出力・波長）

狭線幅と低ASEノイズ

スペクトル幅は ≤ 300 kHz です。ロックなし（パッシブ）での線幅は 12.2 kHz（1 ms）の測定例があります。線幅は評価時間（積分時間）によって値が異なります。

ASEノイズは < –80 dB と低く、ブリルアン顕微鏡など微弱な信号を扱う測定でバックグラウンドを抑えます。

※画像：ASEノイズ（–80 dB）

※画像：周波数ノイズ密度（ロックなし／パッシブ線幅 12.2 kHz、1 ms）

回折限界ビームとファイバカップリング（オプション）

ビーム品質はほぼ理想的で、シングルモードファイバなどによるビーム整形は不要です。小さなスポットへの集光が可能です。利便性のためにファイバ出力が必要な場合は、ファイバカップリング（結合効率 80%程度）をオプションで用意しています。

※画像：ビームプロファイル測定例（楕円率 100.0%、ビーム幅（4σ）X 952.8 µm／Y 950.9 µm）

ECDL＋増幅器構成と比べて不要になるもの

外部増幅器
増幅器のASEノイズ低減ユニット
外部コントローラ
空間フィルタ
Rbセルによるチューニングシステム

周辺機器を減らすことで、コストとシステムの複雑さを抑えられます。

出力について

標準の最大出力は 400 mW です。より高い出力をご希望の場合はお問い合わせください。

ラマン分光用 785nm 単一周波数CWレーザー　785 NX

785 NX は、低ノイズ、TEM₀₀ビーム、高い安定性と狭線幅により、高解像度・高コントラストのラマン分光に適したモデルです。長期にわたる信頼性で再現性の高い測定を実現します。

応用例

Skylark 780

ルビジウムD2遷移（⁸⁵Rb、⁸⁷Rb）
冷却原子トラッピング、磁気光学トラップ（MOT）、ドップラー冷却
ボーズ-アインシュタイン凝縮（BEC）、原子干渉計、原子時計、磁気測定、原子分光
ブリルアン顕微鏡、ラマン分光
光ピンセット（光学操作）、周波数コム生成、自由空間光通信

785 NX

ラマン分光、共鳴ラマン、マイクロラマン、表面増強ラマン（SERS）、ラマンマッピング
クライオラマン（極低温ラマン）、ホットステージラマン
2次元材料分析、半導体材料分析、計測、自由空間光通信

共通

製造：干渉法、マスクレス露光、微細加工、薄膜コーティング
検査：半導体検査、フローサイトメトリー、フォトルミネッセンス（PL）、スペックル干渉計法

ユーザーの声（Skylark Lasers社資料より）

「Skylark 780 の出力と周波数は数日間にわたり十分に安定しています。ドリフトの影響を受けずに長時間の取得が可能です。」（量子技術研究室）
「Skylark 780 のロックは堅牢で非常に安定しており、ルビジウムの周波数を見失うことはありません。」（顕微鏡メーカー）
「Skylark 780 は以前のシステムと比べてASEノイズが非常に低く、グレーティングやガスセルなどの追加のASE抑制策なしで使えます。」（ブリルアン顕微鏡研究者）

関連情報

アプリケーションノート

（英語）と記載されているページは、Skylark Lasersサイトへ遷移します。

モデル	Skylark 780	785 NX
波長	780 nm	785 nm
出力	最大 400 mW※1	最大 400 mW
スペクトル幅	≤ 300 kHz	≤ 300 kHz
横モード	TEM₀₀	TEM₀₀
発振モード	CW、単一周波数	CW、intracavity-locked SLM
スペクトル安定性	± 0.2 pm（8時間）	± 0.2 pm（8時間超）
コヒーレンス長	> 100 m	> 100 m
出力安定性	≤ 2.0 %（8時間）	≤ 2.0 %（8時間超、ピーク間）
出力ノイズ	≤ 0.3 % RMS（10 Hz～10 MHz）	≤ 0.3 % RMS（10 Hz～10 MHz）
ASEノイズ	< –80 dB	< –80 dB
ビーム拡がり角	1.0 mrad、回折限界	≤ 1.0 mrad、回折限界
ビーム径＠出射口	0.8～1.2 mm	0.8～1.2 mm
ビーム位置安定性	≤ 5 µrad/℃	≤ 5 µrad/℃
偏光比	―	≥ 100:1、垂直
絶対周波数参照	内蔵Rbリファレンスへの自動ロック（オプション）、モードホップフリー	―
ピエゾ微調整範囲	1 GHz	―
エタロン調整による粗調整範囲	40 GHz	―
ウォームアップ時間	―	5～30分
消費電力	―	< 50 W（代表値）
制御インターフェイス	Web GUI	―
通信	Ethernet（TCP/IP）＋デジタルI/O	―
安全機能	インターロック、メカニカルシャッター	―
レーザーヘッド外形（L×W×H）	425 × 200 × 123 mm	257 × 150 × 87 mm
ビーム高さ	90.0 mm	54.2 mm
コントローラ外形（L×W×H）	―（ヘッド一体型）	150 × 176 × 61 mm
冷却	クローズドループ水冷チラー（付属）	―
使用環境温度	18～30 ℃	18～30 ℃
レーザーヘッド取付面温度安定性	± 1.5 ℃	± 1.5 ℃
保管温度	0～50 ℃	0～50 ℃
湿度	5～95 %、結露なきこと	5～95 %、結露なきこと
オプション	Rbガスセル内蔵（Rbリファレンスロック）、ファイバカップリング	―