新製品一覧
- 新商品3T analytikqCell T オーバートーン対応品 分子相互作用 質量変化 粘弾性 膜厚分析
qCell Tシリーズは、分子相互作用、バイオフィルム、液体特性、血液分析をリアルタイムで観察する、減衰/散逸モニタリングを備えた、高度な水晶振動子マイクロバランス装置です。質量変化と粘弾性、膜厚をリアルタイムで分析可能。5~50 MHzの共振周波数と散逸(Dissipation)を測定が可能。5 MHzと10 MHzの両方のセンサーに対応、5、15、25、35、45、10、30、50 MHzに対応する合計8つの高調波(オーバートーン)にアクセス可能です。
- 新商品PicoQuant走査型画像顕微鏡解析ソフトウェア NovaISM
NovaISMは、PDA-23 SPADアレイ検出器(冷却単一光子検出器)に最適化されたFLIM解析ソフトウェアであり、ピクセル再割り当て、計算セクショニング、デコンボリューションにより、共焦点顕微鏡よりも高解像度でコントラストの高い画像を提供します。これにより、生体サンプルの高速かつ穏やかなイメージングが可能となります。単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosaにもご利用いただけます。
- 新商品NIREOS可視光-短波長赤外線 ハイパースペクトルカメラ HERA VIS-SWIR
HERA VIS-SWIRは、超広帯域スペクトル範囲(400-1700nm)で130万画素のハイパースペクトル画像を撮影可能。可視光域と短波長赤外線の近赤外域の情報を同時に測定し、組み合わせることができます。
- 新商品Onto Innovation (旧Lumina Instruments)SiC GaN ウエハ フォトルミネセンス マッピング対応 高速レーザー欠陥スキャナー Celero PL
Celero PLシステムはフォトルミネセンス マッピングに対応した高速レーザー欠陥スキャナーです。炭化ケイ素(SiC)および窒化ガリウム(GaN)ベースのウエハと化合物半導体材料の表面下欠陥検査とクラス分け機能のニーズに応えるように開発されました。。さまざまなウェーハ処理オプションが用意されており、クラス最高のスループットと感度を備えながら、1パスあたりのコストを最小限に抑え、研究開発と大量生産の双方の対応します。
- 新商品NIREOSフーリエ変換型分光器 TRICLOPS 可視光-近赤外-短波長赤外-中赤外 対応
分光器 TRICLOPSは、コンパクトで高速スキャンが可能なVIS-NIR-SWIR-MIRに対応。時間領域フーリエ変換検出に基づく独自の特許技術により、光源の発光スペクトルを極めて正確にモニターし、吸収、透過、反射スペクトルを測定可能です。乳製品の特性評価、繊維の分類、バリアフィルム(EVOH:エチレン-ビニルアルコール共重合体)の検出、オリーブオイルの不純物混入に使用いただけます。
- 新商品LIG Nanowise超解像ミクロスフィア増幅対物レンズ SMAL
超分解能ミクロスフィア増幅レンズ SMAL(Super-resolution Microsphere Amplifying Lens ) 。≦100nm分解能を実現。世界トップレベルの光学分解能を持つ最先端の材料検査用の対物レンズです。非接触・非破壊で半導体製造工程でのシリコンウエハの検査等にご使用いただけます。
- 新商品LIG Nanowiseミクロスフィア式超解像分解能光学顕微鏡 ≦100nm分解能 NANORO M
超解像光学顕微鏡です。回折限界を超えて観察ができます100nm以下の空間分解能で、ナノスケールの構造を非破壊・フルカラーで観察できます。半導体研究開発および先端材料イメージング、またはSEMやAFMの代わりとしてご使用いただけます。対物レンズのみでの販売も可能です。(対物レンズ製品ページリンク 下記)
- 新商品Fluence Technologyレーザー微細加工 高出力フェムト秒ファイバレーザー Jasper Flex
オールファイバの高出力フェムト秒ファイバレーザーです。ポリマ切断、レーザー微細加工、表面構造化、集積フォトニクス機器、ディスプレイ製造、民生用電子向けのアプリケーションに最適です。SESAMフリー発振器で40Gの振動でも動作可能。
- 新商品Fluence Technology高出力フェムト秒レーザー Jasper XO ガラスのレーザー切断
高出力のフェムト秒ファイバレーザー。ステントおよび医療機器製造、ガラス切断、半導体・OLED製造、太陽電池製造も最適。最大出力10W、20W、30W、60W、をラインナップ。長期安定性とハンズフリーオペレーションを実現。SESAMフリー技術により堅牢に優れたレーザーです。過酷な環境下でも使用いただけます。
- 新商品Fluence Technologyフェムト秒ファイバレーザー コンパクト設計 Jasper Micro
コンパクトなフェムト秒レーザー。超高速微細加工、フェムト秒アブレーション、二光子重合に最適。平均出力最大7W。OEM組込みも可能なオールファイバのレーザーです。メンテナンスに手間がかからず、費用対効果に優れたレーザーです。
- 新商品CSInstrumentsAFM 原子間力顕微鏡 Nano-Observer 2 ナノオブザーバー 2
最先端のAFM(原子間力顕微鏡)Nano-Observer 2は、柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定(KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。
- 新商品PicoQuant蛍光寿命イメージング分析ソフトウェア NovaFILM
蛍光寿命イメージング解析ソフトウェア 。FLIM(蛍光寿命顕微鏡)、FLIM-FRET(蛍光共鳴エネルギー移動)、異方性データの高速解析を実現する GPUアクセラレーションアルゴリズムを採用。Luminosa、MicroTime 200、LSMアップグレードキットに対応
- 新商品PicoQuantゲインスイッチピコ秒レーザー 単色 Unico
単色ピコ秒利得スイッチングレーザー。光ファイバー結合効率40%の高効率を実現(450nm、488 nm、515 nm、640 nm)。ピコ秒、ナノ秒、CW、高速スイッチングCWに対応。完全コンピュータ制御でコンパクトかつお手頃な価格のレーザーです。
- 新商品Beamtech Optronicsダイオード励起短パルスQスイッチ固体レーザー Locmar
近赤外から紫外まで(NIR-UV)対応 のDPSSレーザー。最大出力300µJ @ 1064nm、LiDAR、MALDI-TOF質量分析、LIBS(レーザー誘起ブレークダウン分光法)に最適なレーザーです。またコンパクト設計でOEM組込み用途にも最適です。
- 新商品PicoQuantマルチモーダルイメージング マイクロフォトルミネッセンス アップグレード
特定の領域や関心点の高分解能定常発光スペクトルと時間分解発光スペクトルの両方を取得することが可能。空間、スペクトル、寿命測定を一体化した時間分解マイクロフォトルミネッセンス分光のイメージング装置です。
- 新商品Beamtech Optronicsフラッシュランプ励起チューナブル OPOレーザー Opolite 移動可能な一体型レーザー
移動可能な一体型のナノ秒の波長可変レーザー。光音響イメージング、レーザー分光法、LiDAR、バイオメディカルへの使用が最適。レーザー光源、OPOモジュール、冷却システムなど含め可動式キャビネットに一体化されてあり、お客様のご要望に合わせてフレキシブルご使用いただけます。
- 新商品PicoQuant小型直立型広視野フォトルミネッセンス 蛍光発光 顕微鏡 FluoMic
小型広視野のフォトルミネッセンス(蛍光発光)顕微鏡。psのタイミング分解能で数psから数msの寿命検出範囲。375~1060nmの励起波長を選択可能。半導体ウェハのテストと分析、太陽電池材料とペロブスカイトの研究、ディスプレイ、LEDの材料との特性評価に最適です。
- 新商品Molecular Vista12インチ 300 mm サンプル対応 AFM-IR装置 PiFM / PiF-IR Vista300
サンプルは12インチ 300 mm × 300 mm まで対応のAFM。ナノ加工における研究開発および故障解析に最適な最先端の ナノ化学測定装置。業界トップクラスの自動化を実現したAFMです。
- 新商品Bristol Instruments高性能CW&パルス波長計“872シリーズ” &マルチレーザーPIDコントローラー ファイバーオプティックスイッチ
レーザー波長計872シリーズ:極細分解能で可視・近赤外域を網羅、量子コンピュータや原子冷却にも最適独自のフィゾー・エタロン技術で200kHzまでの測定分解能を実現したレーザー波長計872シリーズは、可視域から近赤外域までの幅広い波長に対応し、レーザー周波数安定化に最適です。量子コンピュータや原子冷却など、高精度な波長測定が求められる研究開発にご活用いただけます。最大8台までのレーザー接続と安定化を可能にするマルチレーザーPIDコントローラーや、ファイバーオプティクススイッチもアクセサリでご用意しております。
- 新商品FSM Precision大型サンプル対応AFM 最大12インチ NanoViewラージスキャナシリーズ
NanoViewラージスキャナシリーズは4~12インチのサンプルを分割することなく直接観察が可能。表面粗さ、粒子サイズ、ステップ高さなどの3次元表面形状の画像が取得可能な最も直感的で高速かつ費用対効果に優れた産業用AFMです。また自動ポジショニングのための座標の設定も可能で、製品開発と品質管理にとって最適なツールをなっています。