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ファイバ端面検査用 高精度 非接触干渉計 CLEAVEMETER™

NYFORS

適応クラッド径最大: 2000 µm、ファイバコーティング: 250 – 1500 µm、3D画像生成対応モデルのご用意もございます。

ファイバ切断プロセスの向上に貢献 ファイバ端面検査

切断した光ファイバの端面品質を検査し、切断プロセスを最適化するための高精度な干渉計です。鮮明で明瞭な縞パターンを実現する高度な測定機能を備えたソフトウェアを採用しており、製造現場での使用や、実験室環境で切断が困難な光ファイバを扱う環境に最適です。ファイバホルダアダプタは、主要接続機メーカーのクリーバやスプライサに使用でき、再クランプなしで光ファイバをファイバカッタから干渉計へ、そしてスプライサへと容易に移動させることが可能です。
 
CLEAVEMETERシリーズスペック比較シートダウンロード

クラッド径 125 – 1200 µm対応 CLEAVEMETER 2™

”CLEAVEMETER

  • シャープなフリンジパターン
  • 平坦および角度クリーブの測定
  • オペレーターのスキルに依存しない高速操作
  • 製造・ラボ環境において重要な端面からの画像を文書化
  • 125 µm~1200 µmのクラッド径のファイバに対応
  • 主要接続機メーカーのファイバホルダに対応
  • アダプター・プレートの角度誤差測定と補正(プレミアム・ソフトウェア)
  • 平面角および3点ファイバ径測定(プレミアム・ソフトウェア)

3D画像生成対応 最大2000 µm対応 CLEAVEMETER 3D™

”CLEAVEMETER

  • フル解像度の表面形状再構成
  • 表面形状および点ごとの傾きの2Dビュー
  • カメラと照明制御による表面形状の3D表示
  • 生産環境での迅速な操作可能
  • 最高精度 – 0.005°(モデルに依存)
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