ピクセル化 ワイヤーグリッド偏光子
Nanowire® テクノロジー
- 高い透過率とコントラストを実現
- ±20°の入射角でも偏光が乱れず安定した性能
- 波長・入射角に依存しない特性
- 可視光から赤外線まで広帯域に対応
NIL（ナノインプリント）ピクセル化技術
- 任意のピクセル形状・レイアウトにカスタム対応
- ピクセル間で均一な光学性能
- ウェハレベルでのインプリントおよびアライメントが可能
無機材料（Inorganic）構造
- 高い耐熱性により過酷な環境でも安定動作
- 偏光イメージング／3Dカメラ：偏光情報を使って物体形状・質感・粗さなどを高コントラストで捉える技術に
- 生体認証（顔認識）用途：顔表面や角度・陰影の変化を偏光で捉えることで、認証精度を改善
- 偏光ファイバー光プローブ：ファイバーを通した偏光計測
- 産業用マシンビジョン：高速、かつ偏光情報を活用した検査や識別
- 干渉計測：偏光制御を利用した干渉計構成で、精密計測を実現
- 環境検出：赤外偏光を用いた熱像・物質検出など
| 項目 | 可視光オプション（標準） | 赤外光オプション（カスタム） |
|---|---|---|
| 波長範囲 | 400–700nm （400–2500nm 要望対応） | 3–5μm、8–12μm |
| 基板タイプ | ディスプレイグレードガラス | シリコン |
| 厚み | 0.7 ± 0.07mm | 0.675 ± 0.095mm |
| 屈折率 | 1.5198（435.8nm） 1.5078（643.8nm） | 3.421（10.33μm） 3.427（4.132μm） |
| 熱膨張係数 | 31.7 × 10⁻⁷ /°C（0–300°C） | 2.6 × 10⁻⁶ /°C |
| 入射角 | 0° ± 20° | 0° ± 20° |
| ARコーティング | 使用波長に応じて | 使用波長に応じて |
| 最高温度 | 200°C、>5,000時間 | 200°C、>5,000時間 |
| 透過軸 | 長辺基準 | 長辺基準 |
| 透過軸公差 | ±1° | ±1° |
| RoHS 対応 | 対応 | 対応 |
| 透過率 | >80% @ 632nm（ピクセル中心） | お問い合わせください |
| コントラスト比 | >200:1 @ 632nm（ピクセル中心） | お問い合わせください |
