技術情報

技術情報 一覧

PHOTONmark ソフトウェア

Photon Energy

Photon Energy社のレーザーマーキングシステム用のソフトウェア

Detail

オプティクス レンズ 光学フィルタ フィルム厚の測定・粗さ解析

SENSOFAR Metrology

レンズや光学フィルタやフィルムなど、表面が滑らかで平ら、また透明なサンプルのオプティクス、フィルム厚や表面粗さなどの測定・解析が可能です。、球面レンズ、非球面レンズ、カメラレンズ、多角形レンズ(六角形レンズ)に対応。

Detail

テラヘルツ 非破壊検査 レーダーソリューション

Lytid

非破壊検査レーダーソリューション。数十cmまでの高い材料浸透、数千トレース/秒の高い検査率、サブmmの解像度の高解像度3Dイメージングが可能です。非接触検査、インライン検査に適しています。

Detail

Ti:Sapphire レーザー 励起用CPAシステム

Beamtech Optronics

Ti:Sapphireレーザー 近赤外光を発光する波長可変光源です。Ti:Sapphireレーザー の励起用レーザーを多数ラインナップしております。

Detail

レーザーピーニング 表面処理

Beamtech Optronics

レーザーピーニングはレーザーによる表面処理。圧縮残留応力により材料疲労・応力腐食割れなどの耐性を増強させることができます。航空機産業など耐性の求めらる分野で使用されています。

Detail

高解像度&リアルタイム テラヘルツイメージング技術

Lytid

Lytid社とボルドー大学 IMS Nanoelectronicグループ(Patrick Mounaix教授)との共同研究による、テラヘルツ技術を駆使したイメージングアプリケーションの研究開発成果をご紹介します。

Detail

コンパクト レーザー微細加工装置 “Aシリーズ” アプリケーション事例

Oxford Lasers

Oxford Laser Aシリーズによるレーザーマイクロ加工についてご紹介いたします。

Detail

Photon Energy レーザー微細加工&レーザー・ストラクチャリング

Photon Energy

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:レーザー微細加工、レーザー・ストラクチャリング

Detail

【応用例】CANLAS社レーザー溶接

Canlas

CANLAS社のQスイッチ半導体励起固体レーザーを用いた溶接加工の例をご紹介します。

Detail

半導体製造装置・アプリケーション

半導体メーカーは、効率的で高密度なチップを製造しなければなりません。生産から品質保証に至るまでのすべての工程に共通する条件は、最高の精度と信頼性を確保し、品質を最大限に高めることです。attocube社の高精度部品は、これらの要求にお応えし、半導体アプリケーションに最先端の技術を提供します。

Detail

リソグラフィ(CryLaS社レーザーアプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるリソグラフィの例をご紹介します。

Detail

先進的な測定・観察方式

SENSOFAR Metrology

SENSOFAR社の3D測定顕微鏡は、共焦点・光干渉・焦点移動(フォーカスバリエーション)方式の標準的な原理だけでなく、それらの技術をさらに革新させた共焦点技術や膜厚測定などの先進的な測定、観察方式を有しています。

Detail

横方向励起大気圧(TEA) CO2 レーザーによる差分吸収ライダー CO2-DIAL

PaR Systems社では、製油所の一次スタックからの排出量を監視するLIDARシステムなど低高度の汚染物質監視に最適な、LIDAR用のカスタムTEA CO2レーザーを製造しています。出力波長間の高速切り替え用二重グレーティングの制御機能付きです。

Detail

レーザー 超音波 非接触厚み測定 材料特性評価 欠陥検出

Beamtech Optronics

レーザーで発生させた超音波により、材料の特性評価・非接触での厚み測定、欠陥検出などが可能です。産業用途でのオンライン監視などで活用されています。

Detail

従来FT-IRの次世代技術 ”QCL-IR”

DRS Daylight Solutions

QCL-IRは、約1000cm-1の波数範囲を10Hzで掃引し、スペクトルの取得が可能です。IRケミカルイメージング(2次元マッピング)、リアルタイム赤外イメージング、溶液・ガスのリアルタイム分析の時間短縮を実現し、高速で結果をご提供します。

Detail

ヘキサポッド の仕組み 機能性 アプリケーション 6軸平行キネマティックポジショニングシステム

Newport

ヘキサポッドは、最大6つの軸で高負荷容量と精度に対応するステージです。 平行キネマティックモーションデバイスは、多軸ポジショニングのコンパクトなソリューションで6つの自由度(X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー)を持ちます。 ここではその仕組みと優れた機能性、アプリケーションについて紹介いたします。

Detail

OCT向けコンポーネント

General Photonics

OCT(光干渉断層撮影法)は高解像度で生体やサンプル内部を画像化します。General PhotonicsはOCT用コンポーネントを広くサポートしています。

Detail

時間分解分光による半導体材料評価

PicoQuant

半導体の電荷キャリアダイナミクスはウェハ材料の性質と品質を直接反映します。この特性を明らかにするため、光励起された電子と正孔の拡散長の正確かつ効率的な測定することが不可欠です。これには時間分解フォトルミネッセンス消光実験、すなわち時間相関単一光子計数(TCSPC)による時間分解フォトルミネッセンス(TRPL)が有効です。PicoQuant社の分光計 FluoTime 300や、励起光源としてTaiko PDL M1 レーザードライバ駆動のピコ秒パルスレーザーにより、電荷キャリアダイナミクスに影響を与える現象を最短サブナノ秒の時間スケールで直接分析できます。

Detail

PERMAblack ブラックマーキング

Photon Energy
[オススメ]

金属等へレーザー加工による視野角に依存しない深黒色マーキングを実現。医療機器への機器固有識別子(UDI:Unique Device Indentifier)マーキング・刻印に最適。

Detail

AMPHOS 高出力ピコ秒レーザー・アプリケーション例

AMPHOS

AMPHOS社製高出力ピコ秒レーザーは、理科学用途から産業まで非常に広いアプリケーションにお使いいただけます。
理科学用途では、高い平均出力により計測時間を大幅に短縮できます。

Detail

レーザー誘起蛍光法(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるレーザー誘起蛍光法の例をご紹介します。

Detail

非接触光学式3D形状測定の原理

SENSOFAR Metrology

非接触・非破壊でナノメートルからミリメートルオーダーの3D形状、および表面粗さを測定することができる形状計測技術の原理について紹介します。

Detail

ラマン分光(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるラマン分光法の例をご紹介。

Detail

【材料・ナノ構造】ナノ粒子および量子ドットの特性評価

NKT Photonics

ナノ粒子や量子ドットの特性評価では、高解像度検査、材料の局所的変更、高密度場、強度強化など、目的に適応できる光源が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、非常に柔軟性に優れ、ナノ粒子や量子ドット研究で求められる多様なパラメータを提供します。

Detail
TOPに戻る