光ドップラー速度測定は高速で運動する物質の速度測定です。ファブリペロー干渉計のVISAR（レーザー速度干渉計）に比べ、機器費用の経済性に優れています。また衝撃面からの反射光の強度・速度の急激な変化にも対応します。本ページでは光ドップラー速度測定の原理、構成事例等をご紹介します。

レンズや光学フィルタやフィルムなど、表面が滑らかで平ら、また透明なサンプルのオプティクス、フィルム厚や表面粗さなどの測定・解析が可能です。、球面レンズ、非球面レンズ、カメラレンズ、多角形レンズ（六角形レンズ）に対応。

太陽電池のバルクサンプルの特性評価や、マイクロスケール形状の調査には、できるだけ太陽スペクトルに近いスペクトルをもつ広帯域な励起光源が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、特に可視域での高い輝度をもち、太陽電池の特性評価に最適です。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるラマン分光法の例をご紹介。

OCT(光干渉断層撮影法)は高解像度で生体やサンプル内部を画像化します。General PhotonicsはOCT用コンポーネントを広くサポートしています。

Sensofar製品による切削工具向けのアプリケーション事例をご紹介します。共焦点、Ai焦点移動、光干渉法を使い非接触で耐用年数、性能、切削速度、精度を測定、特性評価が可能です。

レーザーで発生させた超音波により、材料の特性評価・非接触での厚み測定、欠陥検出などが可能です。産業用途でのオンライン監視などで活用されています。

半導体の電荷キャリアダイナミクスはウェハ材料の性質と品質を直接反映します。この特性を明らかにするため、光励起された電子と正孔の拡散長の正確かつ効率的な測定することが不可欠です。これには時間分解フォトルミネッセンス消光実験、すなわち時間相関単一光子計数（TCSPC）による時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）が有効です。PicoQuant社の分光計 FluoTime 300や、励起光源としてTaiko PDL M1 レーザードライバ駆動のピコ秒パルスレーザーにより、電荷キャリアダイナミクスに影響を与える現象を最短サブナノ秒の時間スケールで直接分析できます。

アプリケーションに応じてカスタマイズ可能なattocube社 IDS レーザ干渉式変位センサヘッドについての詳細情報。推奨アプリケーション、推奨材料もご紹介します。

測定・検査向けハイエンドカメラ“ImageIR”の応用例をご紹介します。

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例：プラスチック加工（炭化、彫刻、発泡成形、素材除去）

光学センサーの特性評価、テスト、および校正を行うには、高輝度で広範な連続スペクトルを出力できる光源が必要です。SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、フィルタ類を組合せて、チューナブルな狭線幅シングルモードレーザーとしても、広範な波長可変レーザーとしても使用でき、幅広い特性評価に容易に対応できます。

NKT Photonics社のKoherasシリーズ 単一周波数ファイバレーザーは、チューリッヒ工科大学で研究されている石英ガラスの真空浮遊ナノ粒子の磁気光学トラップにおいて重要な要素です。

蛍光寿命イメージング（FLIM）は、蛍光体の異なる蛍光減衰時間を分離することで、従来のイメージングにおける強度とは異なる画像コントラストを作り出す技術です。

Kemtrak社のプロセスフォトメータ（濁度、濃度、色計測）の適用例を紹介します。

レーザー誘起ブレークダウン分光法（ LIBS ）は高エネルギーのレーザーパルスよってプラズマを生成し、サンプルを原子化および励起することにより、固体、液体、気体などあらゆる物質を分析することが可能です。

金属等へレーザー加工による視野角に依存しない深黒色マーキングを実現。医療機器への機器固有識別子（UDI：Unique Device Indentifier）マーキング・刻印に最適。

PCB プリント基板が正常に機能するための重要な銅回路、パッド、バンプ、レジスト開口部、レーザーグルービングの測定・特性評価が可能。分析ソフトウェアを最適化しました。

光学顕微鏡を用いた共焦点と光干渉方式による3次元形状測定技術

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例：セラミック加工

AMPHOS社製高出力ピコ秒レーザーは、理科学用途から産業まで非常に広いアプリケーションにお使いいただけます。
理科学用途では、高い平均出力により計測時間を大幅に短縮できます。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるレーザーマイクロダイセクションの例をご紹介します。

金属誘起エネルギー移動 (MIET) は、蛍光分子から金属薄膜までの距離を測定するナノレベルの顕微鏡技術です。ここでは、LINCamを搭載した広視野およびTIRF蛍光寿命イメージング顕微鏡（FLIM）を用いたMIETの取得について紹介します。

レーザーを対象に照射し、反射光の解析によりリモートセンシングやイメージングが行えます。化合物、雨、岩石、非金属、エアロゾルなど様々なものに対してセンシング・イメージングが可能です。