検査・測定・イメージング機器
プロセスフォトメータ(濁度・SS濃度計)”NBP007″
高濃度対応 インラインSS(浮遊物質測定)・濁度 計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン
動的光散乱法 粒度分布測定装置 NANOPHOX
一般的な動的光散乱法とは異なり、光源とセンサを2つずつ用いる「クロスコリレーション法」を採用しています。そのため、高濃度な試料でも多重散乱の影響を排除した正確な測定が可能です。(測定範囲 0.5 nm~10 μm)
白色干渉計 高速・多機能モデル ”S neox”
S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。
非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”
レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1~500μm)測定用。小型・高速・高精度
レーザー走査型顕微鏡(LSM)用 コンパクト FLIM・FCS アップグレードキット
各社の多光子レーザー走査型顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット。コンパクトFLIM・FCSアップグレードキット
独自の単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200
独自の単一感度を持つ時間分蛍光顕微鏡。最大で6つの個別チャンネル検出が可能。蛍光寿命イメージング(FLIM)、FLIM/FRET、深部組織FLIM、PIE、FCS/FCCS、FLCS/FLCCS、二重焦点FCS、スキャニングFCS、異方性、バースト解析等が可能。2DおよびDイメージング用のピエゾスキャンに対応。
同期システム Sync&Amplock
Sync&Amplockは、Amplitude Systemes社の超高速レーザーと互換性がありアドオンできる最先端の同期ユニットです。 様々な用途において、無線周波数や光学リファレンスと最高の精度でシステム同期できます。
テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”
テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
三次元粗さ解析走査電子顕微鏡 “ERA-600シリーズ”
世界で唯一、4本のSED検出器による高コントラスト観察画像とナノレベル立体形状の取得が可能。高分解能SEM観察と試料表面の形状測定、表面形状のパラメータ算出も一台で完結。精密工学会技術賞を受賞しました。
AFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IR
ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。
非接触 200 mm ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR
非接触大型AFM-IR装置 PiFM 半導体向け200㎜ x 200㎜のウエハをそのまま測定可能です。
低価格 Sub-THz発振 非破壊イメージング・センシングツール TeraScan100
Sub-THz 発振でNDT 非破壊検査 センシング・イメージングを実現する簡易検査ツールです。FMCWレーダー技術をベースに深さ方向3Dサブテラヘルツスキャナーの組合せ。データ取得、スキャナー制御用ソフトウェアと画像処理・可視化ソフトウェアも含めオールインワンでご提供。
AFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧
日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。
ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”
非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB
高精度レーザー干渉式変位センサ
ピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質や極端環境(超高真空、高磁場)に対応する変位測定干渉計【レーザー干渉式変位センサ】
PIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”
流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー
AFMプローブ・カンチレバー
NanoWorld社では、代表的なシリーズとして、PointProbe(ポイントプローブ)シリーズ, Arrow(アロー), Pyrex-nitride(パイレックス・ナイトライド)を取り揃えております。
単一光子カウンティング用カメラ LINCam
スキャン不要の時間相関単一光子計数用のカメラ。手軽に個々の光子の到着時間とXY位置を計測。ラマン分光において、さらに蛍光寿命を利用することで、ラマン光と蛍光を分離・識別して測定することが可能。
TCSPC(時間相関単一光子検出)・時間タグ付け装置一覧
時間相関単一光子計数 (TCSPC)、一致相関、マルチチャネルでのスケーリング 、イベント・タイミング(ピコ秒~ミリ秒の時間分解能)用のモジュールです。シングルチャンネルおよびマルチチャンネル。USBまたはPCIeインターフェイスを装備。※HydraHarp 400 デモ機あり
溶接の可視化装置 VisiWeld
溶接のアークや炎の光の中を可視化する溶接可視化システム
白色干渉計 R&D向けコンパクトモデル ”S lynx”
コンパクトなサイズにSensofarの3-in-1テクノロジーを搭載した卓上型の3D形状測定装置
MicroSense 6800 シリーズ 静電容量変位センサ
シリーズ最高分解能・高速応答モデル
高速変位を高精度で測定
ペレット・粉体用 異物検査装置 CALPAS
粉体やペレット・サンプル中の異物を検出 (サイズ, 形状分析による)。粒子のサイズ、色、形状を高速に評価。多彩なサンプル搬送ユニット (乾式, 湿式, ステージ 等)。オフライン、オンラインの両方に対応可能。
超伝導ナノワイヤ単一光子検出器(SNSPD) Single Quantum Eos Excellent line Image line TeleQKD
Single Quantum社 独自のナノワイヤ構造と液体ヘリウム不要の革新的クローズドサイクル冷却システム採用。近赤外領域で比類のない高い効率 >85%と低いタイミングジッタ <15ps (高い時間分解能)。1-24チャンネル。