高出力波長可変CWレーザー光源。可視光から近赤外の広範囲な波長領域で波長可変可能な光パラメトリック発振器（ OPO ）

波長750～1700nmの光信号出力を-60～+10dBmの範囲で高速モニタリングが可能です。1500シリーズパワーメータは、アクティブファイバーアライメントに最適な対数アナログ出力を備えています。

高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定（KFM、C-AFM)などに強みがあります。

高解像度、高分解能、高精度のサーマルイメージを得ることができる高性能サーモグラフィ

単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さを兼ね備えた蛍光顕微鏡です。自動化により測定時間を短縮を実現。実験室に簡単にインストールいただけます。

512ポイントでの測定が可能な温度計測用高精度ラインスキャナ

光ヘテロダイン計測等に便利な小型の周波数シフタ。複数のデバイスのカスケード接続も可能

クリーンなショートパルスを発振するフェムト秒レーザーです。パルス幅: typ 60fs。平均出力２W以上、堅牢かつ安定性が高く、非線形光学用途・多光子顕微鏡に最適です。

長寿命でパワー安定性の高い内部ミラータイプ。空冷で最大40mW。454/457/514nm, シングル/ダブル/マルチ波長。

PicoQuant社製 TCSPC製品による蛍光分光計制御 及び データ分析ソフトウェア。定常的な励起・発光スペクトル、蛍光・燐光の寿命、異方性測定など、幅広い蛍光分光アプリケーションに対応。スクリプトによる自動化・拡張かが可能。デモ機をご用意しております。

※デモ機あり、サンプル測定可能 高精度 （±0.1 μm）、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計（厚み計）です。独自の非接触光学技術を採用。硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚さ測定をすることができます。最大31層の厚みを同時に測定することが可能です。

優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。

光パワーの保持率98%以上で、ガスまたは粒子の充填が可能。センシング、イメージング、超短パルスアプリケーションに最適。

波長範囲 1880-2000 / 1900-2050 nm, 平均出力 >100 mW /1.3 W。 幅広いゲイン波長域、低ノイズ、優れた出力安定性を有します。

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径5μm～3,900μm。速度同時測定モデル

クラッド径80～1000μmの範囲で光ファイバの高精度切断に対応。大量生産環境において安定した結果と高い生産性を提供します。

発振波長1900-2050 nm, バンド幅 <1 nm, 平均出力パワー>30 W。2μm コンポーネント試験や産業センシング、分光、イメージングのための汎用光源に好適

Optotuneでは革新的な光制御コンポーネントを提供しています：フォーカスチューナブルレンズ（焦点可変レンズ）、高速ステアリングミラー、レーザースペックルリデューサー＆ビームホモジナイザ、ビームシフトデバイス。

クリーンルーム対応。高い柔軟性を持つ装置組込み用顕微鏡ヘッド。さまざまなアプリケーションに適合します。ISO Class 1及びESDの規格に対応。

高繰り返し周波数＆広いカバー波長域の、完全自動化オプティカル・パラメトリック・アンプ（OPA）システム。パルス幅：70～300 fs、繰返し周波数：最高 2 MHz、高い変換効率：12%以上 、波長域：210-11000 nm, 325-2500 nm

レーザービームスキャン（ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション）に最適なRF周波数制御ディフレクタ。高効率。スキャンレート　最高 250 kHz

量子アプリケーションのために設計された決定論的に単一光子を生成する固体の単一光子源です。量子プロジェクトに特化した Sparrow Quantum社の専門チームによって設計、開発、生産された高品質フォトニック コンポーネントです。量子通信やコンピューティングから、量子シミュレーション、量子センシング、量子計測に至る将来の量子技術の構成要素となることが期待されています。確率的な単一光子源とは異なり、決定論的量子エミッタは、優れた量子フォトニック機能を備えた高いオンデマンド単一光子レートを提供できます。 量子情報のキャリアとしての単一光子生成に最適です。

多層セラミック技術をもとにしたスタック型ピエゾアクチュエータ。数kNもの高い耐負荷重と、1nm未満の高い分解能を同時に実現。

一般的な動的光散乱法とは異なり、光源とセンサを2つずつ用いる「クロスコリレーション法」を採用しています。そのため、高濃度な試料でも多重散乱の影響を排除した正確な測定が可能です。（測定範囲 0.5 nm～10 μm）