スポットプロファイラー“JSP20”

日本レーザー

レーザーの集光スポットを瞬時に測定。パルス光の連続的なモニターも可能

レーザーの集光スポットを瞬時に測定。パルス光の連続的なモニターも可能

対物レンズなどの光学系を通過したレーザー光のプロファイルを、焦点位置で瞬時に解析可能な計測機器です。

スリット方式ではないのでパルスレーザーの解析にも対応可能、レーザー出力にもほとんど影響を受けないために幅広い種類のレーザーに対応し、多様な軸と微動マイクロ機構を採用しているので位置調整も非常に容易です。

  • 容易な調整
  • 最適なレンズ選定サポート
  • 測定できるレーザーは幅広く、パルスレーザーにも対応

 

スポットプロファイラー“JSP20”のオプションと拡張性

シリコンやガラスなどの物質内部での集光スポットも容易に観察できるオプション機能を用意しています。

以下のようなケースも、遠慮なくご相談ください。

  • 本製品の貴社装置への組込
  • 特殊用途下での使用
  • 対応波長などのご質問
  • レーザー加工機
  • レーザー測定器
  • レーザーを使用・開発している研究機関
波長 400~700 nm
倍率 20
適用スポットサイズ >5 μm
フィルタ 手動切替
調整機構 XYZαβ
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