その他の製品 一覧

光学特性評価サービス

ASE Optics Europe

様々な光学システムに対応した計測・特性評価サービスを提供、カスタム設計も対応。お客様の光学システム全体の性能評価を行い最適化をご提案が可能です。特定の光学特性評価や計測目的で最先端かつカスタムの装置やベンチを構築も可能です。

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レーザー光用遮光ウィンドウ

山本光学

ご指定の寸法で正確に加工するレーザーウィンドウ

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半導体レーザー用電源

PicoLAS

コンパクトで安価な組込み用の半導体レーザー電源

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簡易型レーザークリーニング装置

TRUMPF (旧SPI Lasers)

ナノ秒パルスファイバーレーザー使用 高速&高品質 表面クリーニング。100W or 200W出力モデル

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高精度 電動位置決めステージ(多軸/回転/ジンバル等)

Newport

Newport社は、高精度なモーションコントロール製品の豊富な納入実績をもつ世界的リーディングカンパニーです。ユニークで多彩な標準の位置決めステージに加え、特定のニーズに合わせて、アセンブリから高度なカスタム/OEMにも対応いたします。ここでは、ヘキサポッド、ジンバルステージ、多軸回転ステージ、多軸ゴニオステージ/クレードルゴニオ、多軸傾斜ステージなどの、標準シリーズやカスタム製品例を紹介しています。

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ペレット・粉体用 異物検査装置 CALPAS

Scigentec

粉体やペレット・サンプル中の異物を検出 (サイズ, 形状分析による)。粒子のサイズ、色、形状を高速に評価。多彩なサンプル搬送ユニット (乾式, 湿式, ステージ 等)。オフライン、オンラインの両方に対応可能。

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超高安定性 干渉計 “GEMINI”

NIREOS

GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光(コヒーレントまたはインコヒーレント光源)のスペクトルを測定できます。

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OEM用 ファイバーコリメーター

Coherent (旧 Electro-Optics Technology)

ファイバーレーザーに最適。特許技術で戻り光による光学系損傷防止。強固なアーマー外皮。多種なファイバーに対応(HI-1060、20/250、980PMおよびカスタム対応)、0.4~5.0mmまでの出射ビーム径、0.08~0.14NAまで対応、対応出力(伝送光)30~400 W、対応出力(戻り光)5~50 W

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高速ステアリングミラー MRシリーズ

Optotune

反射モード(2Dミラー)、透過モード(チューナブルプリズム)で使用可能な、革新的な2次元ビームステアリングミラーです。ビームシフト無。システム組込みに対応。LiDAR、アダプティブヘッドライト、OCT、マシンビジョン、3Dプリンティング、セキュリティなど多彩なアプリケーションで活用いただけます。

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ピコ秒パルスドライバー (シングルチャンネル/マルチチャンネル)

PicoQuant

ピコ秒パルスダイオードレーザードライバー。PicoQuantのレーザー、LEDヘッドで繰り返し周波数率とパルスエネルギーを制御可能。 コンピューター制御のシングルチャネル、またはマルチチャネルユニットが利用可能。 独自の5年間限定保証。

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レーザ光用遮光保護めがね・ゴーグル

山本光学

レーザー使用時に必須の保護めがねとゴーグル等を提供しております。形状・機能・用途に応じて幅広いモデルをラインナップ。適合規格EN CE に対応した製品もご用意しております。

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テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”

HÜBNER

テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定

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超ハイダイナミックレンジ・クロスコリレータ SEQUOIA HD

Amplitude Technologies

1013もの高いダイナミックレンジを達成3次フェムト秒クロスコリレータ。 特に高磁場物理学で一般に使用される高強度レーザーのパルス特性評価に極めて有用。

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レーザー超音波非破壊検査装置

Intelligent Optical Systems

レーザー超音波による非接触非破壊検査/非接触厚さ測定

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蛍光分光計制御&データ分析ソフトウェア EasyTau2

PicoQuant

PicoQuant社製 TCSPC製品による蛍光分光計制御 及び データ分析ソフトウェア。定常的な励起・発光スペクトル、蛍光・燐光の寿命、異方性測定など、幅広い蛍光分光アプリケーションに対応。スクリプトによる自動化・拡張かが可能。デモ機をご用意しております。

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厚膜ポジティブ/ネガティブ・トーン・フォトレジスト

micro resist technology

400nm近傍の波長に感度を有する厚膜フォトレジスト。マスクレス・リソグラフィのアプリケーションを拡げます

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スーパーコンティニューム光源用 フィルタ&アクセサリ

NKT Photonics

SuperK シリーズをはじめとするNKT Photonics社のスーパーコンティニューム光源を目的に合わせてより柔軟に使用できる多彩なアクセサリをラインナップ

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偏光シンセサイザ/アナライザ “PSY-201”

General Photonics

あらゆる偏光状態(SOP)を生成・保持するSOP発生器と偏光分析器の兼用装置

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2μm ナノ秒パルス ファイバーレーザー “PowerWave2000-ns”

NPI Lasers

中赤外スーパーコンティニューム光源の励起に最適。中心波長 1900~2000 nm、繰り返し周波数 kHz~MHz、パルスエネルギー10 μJにて最大出力10 W

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ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

HÜBNER

非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

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ADC内蔵・アンプ付き・Si-InGaAs一体型 フォトディテクタ  SPIDER

NIREOS
[新商品]

Si, InGaAsの両フォトダイオードと各アンプを1台に搭載し、320~1700nmもの広い応答波長域と、ピコワットレベルの微弱光を検出できる高い感度を実現。さらに24bit ADC(アナログ・デジタル・コンバータ)内蔵で、アナログ/デジタル両シグナルを提供でき、デジタルシグナルはUSB出力でPCへ直接伝送可能。
他に類のない万能フォトディテクタ 税抜定価 ¥570,000~

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パルスコンプレッサモジュール COMPRESS

Amplitude Systemes

ピコ秒/サブピコ秒パルスレーザーシステムのパルス幅を大幅に短縮するモジュール。最高のスループット効率、良好なビーム品質、高い安定性。入力パルス幅 < 150 fs to 1 psを数サイクルパルスまで短縮可能。対応波長 1030nm, 515nm

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PIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”

Oxford Lasers,日本レーザー

流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー

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高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ

Bristol Instruments

※デモ機あり、サンプル測定可能 高精度 (±0.1 μm)、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計(厚み計)です。独自の非接触光学技術を採用。硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚さ測定をすることができます。最大31層の厚みを同時に測定することが可能です。

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