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レーザ専門商社の草分けとして1968年から 研究・開発者のニーズにお応えしてきた日本レーザー

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イオン化ポテンシャル測定装置“PYS” New

日本レーザー  

有機膜のイオン化ポテンシャルと仕事関数を測定するPYS光電子収量分光装置

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Nano-Observer ナノオブザーバーAFM

  

多種の測定モード・環境制御に優れた高性能の原子間力顕微鏡

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レジスコープ "ResiscopeII"

  

AFM 超高感度電流増幅器

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分子間相互作用解析装置 "QCM-D"

  

リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析
高性能で低価格

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ナノレベル赤外分光イメージングAFM/SPM(PiFM VistaScope)

  

s-SNOMやナノラマン(TERS)とは異なる原理(光誘起力)を利用したシンプルな構成で、10nm以下の空間分解能を有する赤外分光イメージングが可能。
有機材料のナノスケール・ケミカルマッピング用。

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