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レーザ専門商社の草分けとして1968年から 研究・開発者のニーズにお応えしてきた日本レーザー

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Core シリーズ 機械物性試験装置

Micro Materials  

ナノインデンテーション試験、マイクロインデンテーション試験、ナノスクラッチ試験、マイクロスクラッチ試験、ナノインパクト試験機能がそれぞれ独立したコンパクトな機械特性測定装置

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イオン化ポテンシャル測定装置“PYS”

日本レーザー  

有機膜のイオン化ポテンシャルと仕事関数を測定するPYS光電子収量分光装置

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分子間相互作用解析装置 "QCM-D"

3T analytik  

リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析
高性能で低価格

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Nano-Observer ナノオブザーバーAFM

CSInstruments  

多種の測定モード・環境制御に優れた高性能の原子間力顕微鏡

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高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー) New

CSInstruments  

最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)

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