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レーザ専門商社の草分けとして1968年から 研究・開発者のニーズにお応えしてきた日本レーザー

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MEMSデバイス評価試験装置“FT-MPS02”

  

MEMSデバイスの電気特性と機械特性の両方を測定する試験装置

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高温対応ナノインデンター装置

  

押圧試験、硬度試験、ヤング率評価等、薄膜の機械的特性を高分解能で評価。950℃までの高温に対応

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SEM/FIB対応 ナノメカニカル特性試験装置“FT-NMT02”

  

SEMやFIB内部に設置してマイクロ/ナノ機械特性評価が可能

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MEMS材料マルチ評価試験装置 マイクロメカニカルステーション "FT-MTA02"

  

生体材料を含む広い分野のメカニカル試験とマイクロアセンブリー

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