主な機能と仕様
動的光散乱法により粒度分布を測定します。
他の粒子径測定法では計測が困難である、ナノ粒子の粒度分布測定に適しています。
当装置独自の手法（クロスコリレーション法）により、高濃度での高精度な測定が可能になりました。
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概要
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ナノ粒子計測に用いらている従来の動的光散乱法では、試料間の多重散乱による誤差を避けるため極めて希薄な状態で測定する必要がありますが、試料の希釈は試料自体の変化およびS/Nの悪化を引き起こし測定精度に影響を及ぼします。
この問題を解消すべく独自に開発されたのが当装置独自のクロスコリレーション法（PCCS)です。
クロスコリレーション法（PCCS)とは同一測定エリアに２本のレーザービームを照射し、２つの検出器で得られた信号から多重散乱による信号を除去するものです。
この手法により今まで困難とされていた濃厚系試料も高精度な測定が可能になりました。
専門のサイトが開きます。
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NANOPHOX-α |
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仕様
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■ 測定範囲: 1nm～10μm
■ 光源: He-Neレーザー（632.8nm)、出力最大10mW（ソフト上でレーザー出力の調整可能）
■ 検出器: ツインフォトセンサー（クロスコリレーション用）
■ 散乱測定角度: 90度
■ 温調範囲: 15 ～50℃ の範囲で設定可（パソコン上で制御設定）
■ 温度安定性: 0.05℃
■ 測定セル: 10x10mm2、2ml
- ソフト上でセル位置調整可能。
- 市販の規格品プラスチック製（使い捨て）またはガラス製セル使用可。
■ 解析方法:
- キュムラント法
- NNLS法
■ 電源: 100V
■ 寸法重量: 750mm(W)×350mm(D)×200mm(H)/21kg
（本体のみ、パソコンは含まず）
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製品に関するお問い合わせ
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弊社製品購入ご検討のお客様向けに、社内にてデモンストレーション測定も行っております。お気軽にお問い合わせください。
㈱日本レーザー 粒子計測グループ
TEL： 03-5285-0862
FAX： 03-5285-0860
Eメール： helos@japanlaser.co.jp
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